자분탐상시험은 핀 홀과 같은 점 모양 결함을 검출하는 데에 용이하며, 선 모양 결함 검출은 어렵다는 것이 특징이다. 이는 자분탐상시험의 원리와 관련이 있는데, 자화전류를 이용하여 시험체 내부의 결함을 검출하는 방법이기 때문이다. 선 모양 결함은 전류의 흐름을 방해하여 검출이 어렵지만, 핀 홀과 같은 점 모양 결함은 전류의 흐름을 방해하지 않기 때문에 검출이 용이하다. 따라서 자분탐상시험은 표면 균열검사에 적합하며, 강자성체 재료에 한다. 또한, 시험체가 큰 경우에는 높은 자화전류치가 요구되기도 한다.