2015년08월16일 33번

[작업환경측정 및 평가]
토석, 암석 및 광물성 분진(석면분진제외) 중의 유리규산(SIO₂)함유율을 분석하는 방법?

① 불꽃광전자 검출기 (FPD)법
② 계수법
③ X-선 회절 분석법
④ 위상차 현미경법

(정답률: 43%)

문제 해설

X-선 회절 분석법은 결정 구조를 분석하는데 사용되는 기술로, 토석, 암석 및 광물성 분진(석면분진제외) 중의 유리규산(SIO₂)함유율을 분석하는데에도 적용될 수 있습니다. 이 방법은 X-선을 샘플에 비추어 발생하는 회절 패턴을 분석하여 샘플 내의 결정 구조를 파악하고, 이를 통해 유리규산 함유율을 계산할 수 있습니다. 따라서 X-선 회절 분석법이 이 문제에 대한 가장 적합한 분석 방법입니다.

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